Pianu NIR Apo 50X/0.67 – Obiettivu metallurgicu currettu à l'infinitu per l'imaghjini attraversu u siliciu è u monitoraghju di u prucessu laser à fibra

Pianu NIR Apo 50X/0.67 – Obiettivu metallurgicu currettu à l'infinitu per l'imaghjini attraversu u siliciu è u monitoraghju di u prucessu laser à fibra

U NIR Plan Apo 50X/0.67 hè un obiettivu di microscopiu apocromaticu à pianu currettu à l'infinitu di prima qualità, specificamente ottimizatu per l'applicazioni vicinu à l'infrarossu (NIR). Cù una apertura numerica (NA) di 0,67 è una distanza di travagliu (WD) di 10 mm, offre una risoluzione eccezziunale (0,5 µm) è una eccellente trasmissione NIR in tutta a gamma visibile di 380-700 nm, è ancu a lunghezza d'onda critica di 1064 nm, ciò chì u rende ideale per l'ispezione di u retro di i wafer di silicio, a metrologia attraversu u silicio via (TSV) è u monitoraghju in tempu reale di a trasfurmazione laser à fibra.

Specifiche chjave:

  • Ingrandimentu: 50X
  • Apertura Numerica (NA): 0,67
  • Distanza di travagliu (WD): 10 mm
  • Lunghezza focale: 4 mm
  • Risoluzione: 0,5 µm
  • Prufundità di campu (±DF): 0,75 µm
  • Campu di vista massimu: 0,5 mm
  • Pesu: 430 g
  • Cuncepimentu otticu: currettu à l'infinitu, apocromaticu pianu (APO)
  • Lunghezza d'onda di travagliu: 380–700 nm è 1064 nm
  • Mediu d'immersione: Aria

Dettagli di u produttu

Etichette di u produttu

Applicazioni tipiche:
Ispezione di semiconduttori– Ispezione di u wafer posteriore, misurazione TSV (via attraversu u siliciu), revisione di i difetti dopu a taglierina laser
Analisi di fallimentu– Imaging non distruttiva attraversu substrati di silicone per ispezionà strutture interrate
Trasfurmazione laser– Osservazione in tempu reale di l'ablazione laser à fibra di 1064 nm, di a perforazione o di a saldatura in a scienza è a fabricazione di i materiali
Metallurgia è scienza di i materiali– Ispezione à alta risoluzione di zone affettate da u calore laser, strati rifusi è microstrutture
Microscopia à fluorescenza NIR– Per campioni biologichi o di materiali chì necessitanu eccitazione à infrarossi vicini
Obiettivu di u microscopiu




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    Wavelength hè stata focalizzata nantu à furnisce prudutti ottici di alta precisione per 20 anni.