Cina NIR PLAN APO 10X/0.28 - Obiettivu Apocromaticu di Pianu Correttu à l'Infinitu, Lente à Tubu f=200mm, per a Fabbricazione è a Fabbrica di Microscopia à Infrarossi Vicini

NIR PLAN APO 10X/0.28 – Obiettivu Apocromaticu di Pianu Currettu à l'Infinitu, Lente à Tubu f=200mm, per Microscopia Vicinu à l'Infrarossu Imagine in Evidenza

NIR PLAN APO 10X/0.28 – Obiettivu Apocromaticu di Pianu Currettu à l'Infinitu, Lente à Tubu f=200mm, per Microscopia à Infrarossu Vicinu

U NIR PLAN APO 10X/0.28 hè un obiettivu di microscopiu apocromaticu pianu currettu à l'infinitu di prima qualità, ottimizatu per a gamma di l'infrarossu vicinu (NIR). Cù un ingrandimentu di 10X è un'apertura numerica (NA) di 0.28, furnisce immagini nitide è à altu cuntrastu cù una aberrazione cromatica minima in una larga gamma di lunghezze d'onda (per esempiu, 532-1064 nm, cumpresi 780 nm è 1064 nm). Cuncipitu per l'usu cù una lente tubulare di 200 mm (∞/0, f=200), questu obiettivu s'integra perfettamente in i sistemi d'ispezione industriale, e stazioni di travagliu di trasfurmazione laser è i microscopi di ricerca.

Mandate un email à noi

Dettagli di u produttu

Etichette di u produttu

Vantaghji chjave

Currezzione NIR apocromatica– Curregge l'aberrazioni cromatiche per trè lunghezze d'onda in a gamma NIR/visibile, producendu immagini d'alta definizione è cù culori precisi senza frange.
Currezzione à l'infinitu– Permette una facile integrazione di divisori di fasciu, filtri, polarizzatori è cumpunenti DIC in u percorsu otticu parallelu.
Alta NA 0.28– Fornisce una risoluzione eccellente per un obiettivu 10X, capace di risolve dettagli fini (limite teoricu ~1,2 µm à 550 nm).
Distanza di travagliu longa (~34 mm)– Offre un ampiu spaziu per campioni spessi, manipulatori o illuminatori coassiali, ideale per l'ispezione industriale.
Pianificà u disignu di u campu pianu– Assicura una messa à focu uniforme in tuttu u campu visuale, da u centru à u bordu.
Interfaccia meccanica standard– A filettatura M26 è a distanza parfocale di 95 mm ne facenu un rimpiazzamentu direttu per a maiò parte di i microscopi metallurgichi (Nikon, Mitutoyo, ecc.).